它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。这种创新技术的，目前正在申请专利的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度.
专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构.
x荧光线路板膜厚仪美国
1.可测：单层,双层,多层,合金镀层,
1.可测：单层,双层,多层,合金镀层,
2.测量范围:0.04-35um
3.测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
4.全自动台面：操作非常方便简单
5.可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度等。
6.可测元素范围：钛（Ti）– 铀（U） 原子序 22 –92
7.准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
8.自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
9.电脑系统：DELL品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机
联系人: 舒翠
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